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發(fā)布時間：2022年6月20日                        作者：德國GMC-I高美測儀（上海電勵士）

光學測量是光電技術與機械測量相結合的高科技。利用計算機技術，我們可以實現(xiàn)快速、準確的測量。光學測量主要用于現(xiàn)代工業(yè)測試，主要用于測試產(chǎn)品的形狀公差和數(shù)值孔徑是否合格。

現(xiàn)代工業(yè)檢測主要采用光學測量，主要檢測產(chǎn)品的形狀公差和數(shù)值孔徑是否合格。

光學測量儀器分類

光學測量的被測部分主要分為三類:有源器件、無源器件和高速通信。

有源設備主要包括:調(diào)制器、發(fā)射器、接收器、放大器、MUX/DEMUX、光電和電光轉(zhuǎn)換器以及激光源。

無源設備主要包括:濾波器、光纖、光連接器、光分路器和光衰減器。高速通信主要包括:40G/100G光通信、廣播電視通信、光纖接入、4G通信、光纖無線電等。

通用光學參數(shù)測試儀器主要包括:可調(diào)和大功率激光源、光功率計、回波損耗測試儀、光衰減器、光開關、多波長計和光譜分析儀。

光電/偏振/復雜調(diào)制儀器主要包括:光波元件分析儀/光色散和損失分析儀、偏振分析儀和控制器、光調(diào)制分析儀、任意波形發(fā)生器、光/電/光轉(zhuǎn)換器。

比特誤碼率和波形分析儀器主要包括：串行/平行誤碼儀、光示波器和模塊。

應用光學測量儀器。

掃描波長光學測量解決方案：

結合使用一個或多個光功率計和可調(diào)激光源(TLS)，可以支持光功率和波長關系的測量。

這種測量通常用于確定測量裝置的輸入功率和輸出功率之間的比率。比率稱為插入損耗，單位為db。當TLS在選定范圍內(nèi)調(diào)整波長時，功率計將對測量點的功率進行定時取樣。

通過與TLS掃描同步的觸發(fā)信號，這些樣本可以實現(xiàn)與相應波長的精確相關性。多端口設備（如多路復用器、功率分離器和波長開關）的輸出可以同時測量。

這些激光源具有內(nèi)置的波長監(jiān)測功能，可以確保高波長的精度和可重復性，特別是在快速波長掃描過程中。這些波長記錄數(shù)據(jù)使用測量觸發(fā)信號與功率計同步。

如果需要更高的絕對波長精度，偏置校準可以通過氣體參考信號進行，PFL支持工程師輕松完成校準操作。在單模光纖波長范圍(1260-1630nm)中，Ingaas功率檢測器的響應變化最小，靈敏度高，動態(tài)范圍寬，是此類測量的好的工具。

高美光功率計特別適用于這些掃描波長測量：高分辨率測量結果可以在高速掃描時獲得快速采樣率和寬信號帶寬，并且測量線沒有失真。更快的數(shù)據(jù)傳輸速度可以大大提高吞吐量，特別適用于大量端口。

瞬時功率測量。

瞬時功率測量采用多端口光功率計：光纖切換時間通過測量光功率電平的變化來觀察光纖移動或網(wǎng)絡重新配置引起的瞬時波動，超出了大多數(shù)光功率計的設計功能。

這些傳統(tǒng)的光功率計通常只用于校準和測量光功率電平(常數(shù)或與其他儀器同步變化)。傳統(tǒng)儀器的典型采樣率(約10kHz)、數(shù)據(jù)容量(約100,000個樣本)制器的數(shù)據(jù)傳輸速度往往不足以支持此類時間相關應用。

其他方法，如與示波器相結合的快速光電轉(zhuǎn)換器，已在實踐中得到應用，并已在一些標準中得到應用。然而，這些方法通常需要額外的集成，以光電校準為代價，并對示波器帶寬提出了額外的要求。

通信波形測量。

對于任何高速通信信號，必須測試通道和基本信號特征，以確保其符合標準，并能與系統(tǒng)計劃中的其他設備相互操作。

基于寬帶采樣示波器的數(shù)字通信分析儀(DCA)在研發(fā)、設備驗證和批量收發(fā)機生產(chǎn)領域享有良好的聲譽，被認為是準確分析光波形的行業(yè)標準。除了基本的眼圖和脈沖波形表征外，DCA還可以進行先進的抖動分析和通道阻抗表征。

光收發(fā)器測試用于纖通道網(wǎng)絡。

這種網(wǎng)絡有三種拓撲方式：點對點、仲裁環(huán)路和交換結構。使用光收發(fā)器可以優(yōu)化設備之間的連接。