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1.入射測(cè)光表的測(cè)光方法
入射測(cè)光表的測(cè)光方法與反射光度計(jì)不同。它將測(cè)光表放置在被攝對(duì)象的位置上,以測(cè)量照射到被攝對(duì)象上的光量。它測(cè)量的光值并不表示對(duì)象的某個(gè)部分有多亮,而是表示所有光照射到對(duì)象的某個(gè)部分上有多亮。
2.反射式測(cè)光表的測(cè)光方法
反射式測(cè)光表通過(guò)反射場(chǎng)景中的光來(lái)測(cè)量光。例如,如果您對(duì)較亮的被攝對(duì)象測(cè)光,則可獲得較大的讀數(shù),而對(duì)較暗的被攝對(duì)象測(cè)光,則可獲得較小的讀數(shù)。如果面對(duì)的場(chǎng)景有明亮和黑暗的地方,反射光度計(jì)將給出一個(gè)平均值,該平均值將被攝對(duì)象的亮度和黑暗值進(jìn)行積分。所有自動(dòng)測(cè)光的相機(jī)中的測(cè)光裝置都是反射式測(cè)光。
3.測(cè)光錯(cuò)誤時(shí)如何使用測(cè)光表
使用測(cè)光表時(shí),請(qǐng)注意測(cè)光表使用什么測(cè)光元件(在使用說(shuō)明書(shū)中介紹)。當(dāng)測(cè)光表的誤差較大時(shí),不一定表示測(cè)光表有故障。通常使用。造成不當(dāng)。測(cè)光表的大多數(shù)測(cè)光元件都使用CdS(硫化鎘)光敏電阻。這種組件的一個(gè)缺點(diǎn)是“內(nèi)存”現(xiàn)象。